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  • BSD-PM活性碳孔徑分析儀
    BSD-PM活性碳孔徑分析儀

    更新時(shí)間:2024-10-24

    型號(hào):BSD-PM

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    活性碳孔徑分析儀 產(chǎn)品概述:◆ 測(cè)試功能:比表面積,孔結(jié)構(gòu)及其他氣體吸附性能評(píng)價(jià)◆ 吸附質(zhì)種類:各種非腐蝕性氣體測(cè)試◆ 測(cè)試范圍:比表面積0.0005㎡/g以上,孔徑0.35-500nm◆ 分析位數(shù)量:1/2個(gè)分析位;
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  • BSD-PM鐵氧體孔徑分布分析儀
    BSD-PM鐵氧體孔徑分布分析儀

    更新時(shí)間:2024-10-24

    型號(hào):BSD-PM

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    鐵氧體孔徑分布分析儀 產(chǎn)品概述:◆ 測(cè)試功能:比表面積,孔結(jié)構(gòu)及其他氣體吸附性能評(píng)價(jià)◆ 吸附質(zhì)種類:各種非腐蝕性氣體測(cè)試◆ 測(cè)試范圍:比表面積0.0005㎡/g以上,孔徑0.35-500nm◆ 分析位數(shù)量:1/2個(gè)分析位;
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  • BSD-PM硅酸鈣孔徑分布分析儀
    BSD-PM硅酸鈣孔徑分布分析儀

    更新時(shí)間:2024-10-24

    型號(hào):BSD-PM

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    硅酸鈣孔徑分布分析儀 產(chǎn)品概述:◆ 測(cè)試功能:比表面積,孔結(jié)構(gòu)及其他氣體吸附性能評(píng)價(jià)◆ 吸附質(zhì)種類:各種非腐蝕性氣體測(cè)試◆ 測(cè)試范圍:比表面積0.0005㎡/g以上,孔徑0.35-500nm◆ 分析位數(shù)量:1/2個(gè)分析位;
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  • BSD-PM活性孔徑分布分析儀
    BSD-PM活性孔徑分布分析儀

    更新時(shí)間:2024-10-24

    型號(hào):BSD-PM

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    活性孔徑分布分析儀 產(chǎn)品概述:◆ 測(cè)試功能:比表面積,孔結(jié)構(gòu)及其他氣體吸附性能評(píng)價(jià)◆ 吸附質(zhì)種類:各種非腐蝕性氣體測(cè)試◆ 測(cè)試范圍:比表面積0.0005㎡/g以上,孔徑0.35-500nm◆ 分析位數(shù)量:1/2個(gè)分析位;
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  • BSD-PM納米碳酸鈣孔徑分布分析儀
    BSD-PM納米碳酸鈣孔徑分布分析儀

    更新時(shí)間:2024-10-24

    型號(hào):BSD-PM

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    納米碳酸鈣孔徑分布分析儀 產(chǎn)品概述:◆ 測(cè)試功能:比表面積,孔結(jié)構(gòu)及其他氣體吸附性能評(píng)價(jià)◆ 吸附質(zhì)種類:各種非腐蝕性氣體測(cè)試◆ 測(cè)試范圍:比表面積0.0005㎡/g以上,孔徑0.35-500nm◆ 分析位數(shù)量:1/2個(gè)分析位;
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  • 白炭黑孔徑分布測(cè)試儀
    白炭黑孔徑分布測(cè)試儀

    更新時(shí)間:2024-10-24

    型號(hào):

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    白炭黑孔徑分布測(cè)試儀 產(chǎn)品概述: ◆ 測(cè)試功能:比表面積,孔結(jié)構(gòu)及其他氣體吸附性能評(píng)價(jià) ◆ 吸附質(zhì)種類:各種非腐蝕性氣體測(cè)試 ◆ 測(cè)試范圍:比表面積0.0005㎡/g以上,孔徑0.35-500nm ◆ 分析位數(shù)量:1/2個(gè)分析位;
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  • 乙炔黑孔徑分布測(cè)試儀
    乙炔黑孔徑分布測(cè)試儀

    更新時(shí)間:2024-10-24

    型號(hào):

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    乙炔黑孔徑分布測(cè)試儀 產(chǎn)品概述: ◆ 測(cè)試功能:比表面積,孔結(jié)構(gòu)及其他氣體吸附性能評(píng)價(jià) ◆ 吸附質(zhì)種類:各種非腐蝕性氣體測(cè)試 ◆ 測(cè)試范圍:比表面積0.0005㎡/g以上,孔徑0.35-500nm ◆ 分析位數(shù)量:1/2個(gè)分析位;
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  • 硅微粉孔徑分布測(cè)試儀
    硅微粉孔徑分布測(cè)試儀

    更新時(shí)間:2024-10-24

    型號(hào):

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    硅微粉孔徑分布測(cè)試儀 產(chǎn)品概述: ◆ 測(cè)試功能:比表面積,孔結(jié)構(gòu)及其他氣體吸附性能評(píng)價(jià) ◆ 吸附質(zhì)種類:各種非腐蝕性氣體測(cè)試 ◆ 測(cè)試范圍:比表面積0.0005㎡/g以上,孔徑0.35-500nm ◆ 分析位數(shù)量:1/2個(gè)分析位;
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